<div dir="ltr">Dear Colleagues,<div><br></div><div>I am looking for an X-ray reflectometry (XRR) capability for the characterization of thin metallic films (<100 nm) on Si and SiO2 surfaces.  By any chance does anyone on this mailing list have access to such a measurement technique, or a use a laboratory that performs these measurements?  </div><div><br></div><div>Many thanks!</div><div>Fred</div><div><br clear="all"><div><br></div>-- <br><div class="gmail_signature" data-smartmail="gmail_signature"><div dir="ltr"><div><div dir="ltr"><div><div dir="ltr"><div><div dir="ltr"><div><div dir="ltr"><div dir="ltr"><div dir="ltr"><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px">Fred Newman</div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px">Research Engineer</div><div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px;word-wrap:break-word">Washington Nanofabrication Facility (WNF)<br>University of Washington</div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px;word-wrap:break-word">Fluke Hall 132, Box 352143</div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px;word-wrap:break-word">office 206 616 3534</div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px;word-wrap:break-word">mobile 505 450 4447</div><div style="color:rgb(0,0,0);font-family:Helvetica;font-size:12px;word-wrap:break-word"><a href="mailto:fnewman@uw.edu" target="_blank">fnewman@uw.edu</a></div><div style="word-wrap:break-word"><font color="#000000" face="Helvetica"><span style="font-size:12px"><a href="https://www.wnf.washington.edu/" target="_blank">https://www.wnf.washington.edu/</a></span></font><br></div></div></div></div></div></div></div></div></div></div></div></div></div></div>
</div></div>